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薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀-本儀器方式為微機(jī)控制，卷膜移動(dòng)速度可設(shè)定，按照設(shè)定的升壓速率升壓，達(dá)到設(shè)定的電壓后，實(shí)時(shí)記錄當(dāng)前的電壓值和電流值，并能夠?qū)崟r(shí)記錄當(dāng)前的擊穿點(diǎn)，試驗(yàn)結(jié)束后自動(dòng)歸零，自動(dòng)統(tǒng)計(jì)電弱點(diǎn)數(shù)、電弱線數(shù)，自動(dòng)計(jì)算每平方米的電弱點(diǎn)數(shù)。

電弱點(diǎn)測(cè)試儀-主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。本機(jī)采用計(jì)算機(jī)控制，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理，并可存取、顯示、打印.